目前主流的(de)產(chan)(chan)品(pin)標(biao)識都是噴印(yin)(yin)在(zai)產(chan)(chan)品(pin)上，但(dan)由(you)于工(gong)藝原因，印(yin)(yin)刷(shua)(shua)標(biao)識通常(chang)存在(zai)一定的(de)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)缺陷，如(ru)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)錯位、漏印(yin)(yin)、錯印(yin)(yin)等，嚴重影響產(chan)(chan)品(pin)質量(liang)。品(pin)牌的(de)外觀(guan)和整體形(xing)象。針對此類問題，不(bu)(bu)少(shao)企業采用(yong)人(ren)(ren)工(gong)檢(jian)測(ce)來檢(jian)測(ce)印(yin)(yin)刷(shua)(shua)品(pin)的(de)質量(liang)。但(dan)是，由(you)于人(ren)(ren)工(gong)檢(jian)查過程中(zhong)不(bu)(bu)可(ke)避(bi)免的(de)錯誤，會造(zao)成(cheng)(cheng)(cheng)大量(liang)漏檢(jian)、誤檢(jian)和人(ren)(ren)工(gong)損壞。日益高昂(ang)的(de)勞動力成(cheng)(cheng)(cheng)本也(ye)成(cheng)(cheng)(cheng)為制約廠(chang)商擴張的(de)主要因素。在(zai)行(xing)業中(zhong)，高光材料用(yong)于加工(gong)一些平整度(du)較高、表面要求(qiu)較高的(de)工(gong)件(jian)，如(ru)手機標(biao)識、軍(jun)用(yong)設備等產(chan)(chan)品(pin)中(zhong)的(de)導光板，如(ru)Apple LOGO缺陷檢(jian)測(ce)。此類工(gong)件(jian)樣品(pin)本身(shen)呈鏡面反射，工(gong)件(jian)本身(shen)平整度(du)高，易沾油(you)漬、指(zhi)紋等。

【檢測類型】

碰傷、擊傷、缺口瑕疵檢測

刮傷瑕疵檢測

壓傷、凹痕瑕疵檢測

針孔瑕疵檢測

腐蝕(shi)點(dian)、白點(dian)、麻點(dian)瑕疵檢測

臟污瑕疵檢測

研磨痕瑕疵檢測

料線、料紋瑕疵檢測

凸包瑕疵檢測等

【檢測難點】

由于材質(zhi)表面(mian)(mian)(mian)光潔度(du)很高，已經形成(cheng)一個高光鏡面(mian)(mian)(mian)，光源即使在很弱的(de)(de)(de)(de)狀態下，表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)反光也會(hui)有(you)非(fei)常(chang)強的(de)(de)(de)(de)對比(bi)(bi)度(du)，這種對比(bi)(bi)度(du)會(hui)把表面(mian)(mian)(mian)本(ben)身的(de)(de)(de)(de)雜質(zhi)、劃痕、研磨痕等缺(que)陷(xian)(xian)覆蓋(gai)，使得視覺拍照無(wu)法檢測出零件表面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)(xian)。

倒影(ying)問題：由于材質(zhi)表面(mian)已經形成(cheng)(cheng)一(yi)個(ge)鏡(jing)面(mian)，一(yi)般的(de)光學鏡(jing)頭和視覺光源的(de)燈珠等都會(hui)在(zai)材質(zhi)表面(mian)形成(cheng)(cheng)倒影(ying)，這個(ge)倒影(ying)會(hui)成(cheng)(cheng)像(xiang)在(zai)最后的(de)檢測畫面(mian)上,會(hui)嚴重(zhong)影(ying)響材質(zhi)表面(mian)的(de)成(cheng)(cheng)像(xiang)效果，造成(cheng)(cheng)檢測無(wu)法進行(xing)

總結：國辰機器人根據多年機器視覺檢測項(xiang)目經驗，總結出的成熟系統解決(jue)方(fang)案，主要用(yong)來解決(jue)電子產(chan)品表(biao)面Logo缺陷(xian)檢(jian)測，目前(qian)主要應(ying)用(yong)在國內(nei)產(chan)品Logo和手機外殼Logo表(biao)面缺陷(xian)檢(jian)測。